產(chǎn)品介紹

瑞芯智造 納米庫爾特雙通道顆粒分析儀 NanoCoulter G/I/D系列

打破DLS/NTA光學局限，媲美電鏡的單顆粒檢測技術。

產(chǎn)品介紹：

• 超高精準度

不受樣本的折射率、 吸光度等光學性質影響， 顆粒之間無互相影響， 數(shù)據(jù)更準確

• 單顆粒檢測

經(jīng)典庫爾特原理，精準分析每個過孔顆粒， 真正意義上的單顆粒檢測， 對粒徑分布廣的多分散系樣本有更好的測量效果

• 多維度檢測

單次檢測可以得到顆粒粒徑、 濃度 、 zeta電位、 形態(tài)等多維數(shù)據(jù)

• 數(shù)據(jù)更真實

數(shù)據(jù)不擬合， 直接測量單個顆粒的體積粒徑， 得到樣本所有粒徑濃度分布情況，最真實的反應樣本真實狀態(tài)

• 超高分辨率

粒徑分辨率可達1nm, 滿足高精度 的應用場景

粒徑 | 媲美電鏡的粒徑測量精度

NanoCoulter測量聚苯乙烯標準微球等樣本的平均粒徑與粒徑分布，其結果與電鏡 (S E M ) 數(shù)據(jù)準確度及精度吻合。

濃度 | 精準的濃度測量與重復性

將樣本梯度稀釋，濃度數(shù)據(jù)線性關系良好 ，且與理論濃度相一致 (固含量理論計算) , 10次重復測試，C V < 5 % 。

電位 | 單顆粒Zeta電位測量

Zeta電位是一個表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標。在恒定電場作用下，顆粒移動速度與Zeta的絕對值正相關。NanoCoulter測量顆粒通過納米孔的時間從而獲得zeta電位數(shù)據(jù)，因此是*一可以做到單顆粒粒徑、Z e t a 電位、濃度同時測量的技術平臺。

瑞芯智造 納米庫爾特雙通道顆粒分析儀